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ZLRT-600型正面探針型冷熱臺
ZLRT-600型正面探針型冷熱臺適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況，測試探針可前后伸縮和自由轉動，因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況，可選擇不同材質和觸點形狀的探針。配套：A2505(...
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CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺
CLRT-1200正面探針型超高溫冷熱臺采用高溫加熱元件，可以在1200℃下長期穩定使用；采用高溫陶瓷固定探針臂，保證高溫下探針穩定可靠；可增加一路溫度信號，用于和其它測試軟件結合；配套：A2505(...
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1600℃絕緣材料超高溫電阻率測試儀
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2&...
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精科智創PVDF薄膜材料鐵電測試儀
本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器...
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無鉛壓電陶瓷D33測試儀
ZJ-3型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分子材料,PVDF薄膜壓樣品。ZJ-4擴展...
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一體化DHM動態電滯回線鐵電測試儀
FE-5000W型電致應變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值...
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GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺
GFQLR-200半導體制冷積分球冷熱臺半導體制冷原理的冷熱臺，體積小變溫速度快，直接貼附在積分球上使用?？蛇m用于透射和反射情況。散熱可選擇水冷和風冷方式。附件:可另外增加一路樣品溫度采集
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GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺
GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺光纖光譜儀可用于變溫的光學投射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發后的光學測量。溫控軟件可集成溫度和光譜數據，并實時顯示和保存。
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GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺
GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺體積小巧、溫度范圍廣。 內部可以增加最多四個電學探針，可實現在光學測量的同時可進行電信號測量。 可以增加側面支架和氣氛接頭，使用非常靈活。
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BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺
BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料
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JFQ-300型積分球冷熱臺
JFQ-300型積分球冷熱臺簡要描述:JFQ-300型積分球冷熱臺提供氣氛接頭，在積分球上變溫測試的同時可進行不同氣氛下的測試。熱臺背面通道可增加一路溫度傳感器測量樣品內部溫度。適配窗口直徑40mm的...
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SCGP-600型兩面窗口光譜儀冷熱臺
SCGP-600型兩面窗口光譜儀冷熱臺采用旋蓋結構取放樣品。變溫區間大，適合不同材料的光學性質研究。窗口可更換不同材質的窗片，同時腔體可根據光譜儀不同廠家型號訂制安裝板; 配套:A2402(光譜儀圓腔...
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