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B2912A-16T型多通道高低溫電阻I/V（電流 vs 電壓）測試系統是一款針對特殊樣品多路電極測試的系統，解決了同一個樣品面對點I/V（電流 vs 電壓），配備了高低溫樣品測試臺，16通道并行I-V掃描自動切換通道，無需人工干預，使測試變得更加方便，快捷。在新材料，復雜材料測試和研究重要設備.

SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發及分析。半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。