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熱釋電性能測試儀 aixPYM (Pyroelectric Measurement) 本系統主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。 薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃； 塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。

熱激發極化電流測試儀 TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement) 本系統除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料的熱激發極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。

熱電性能測試儀 COMTESSE (Thermoelectric Measurement) 本系統主要用于熱電性能測試。 包括：熱導率thermal conductivity, 電導率electrical conductivity, 塞貝克系數Seebeck-Coefficient, Harman ZT等隨溫度的變化。

機電薄膜e31測試儀 aix4PB (Electromechanical thin film e31 analyzer ) 薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能，縱向壓電系數d33和橫向壓電系數e31被用于表征傳感器和執行器的這些關鍵性能。 縱向壓電系數可由aixDBLI測試，而橫向壓電系數e31就可用aix4PB系統測試。 通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 本系統主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機電性能的表征。 壓電測試溫度可以達到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內表征。樣品上的電流響應測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光干涉儀進行測量。

多鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR (MagnetoResistive Measurement) 本系統主要用于研究磁阻和鐵性材料。 本系統提供連續電流激勵和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點測試。